近红外光谱仪的发展史

发表时间:2019-09-20 15:16

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在过去的 50 多年里,近红外光谱仪经历了如下几个发展阶段:

  • 第一台近红外光谱仪的分光系统(50 年代后期)是滤光片分光系统,测量样品必须预先干燥,使其水分含量小于 15%,然后样品经磨碎,使其粒径小于 1 毫米,并装样品池。此类仪器只能在单一或少数几个波长下测定(非连续波长),灵活性差,而且波长稳定性、重现性差,如样品的基体发生变化,往往会引起较大的测量误差!“滤光片”被称为第一代分光技术。

  • 70 年代中期至 80 年代,光栅扫描分光系统开始应用,但存在以下不足:扫描速度慢、波长重现性差,内部移动部件多。此类仪器最大的弱点是光栅或反光镜的机械轴长时间连续使用容易磨损,影响波长的精度和重现性,不适合作为过程分析仪器使用。“光栅”被称为第二代分光技术。

  • 80 年代中后期至 90 年代中前期,应用“傅叶变换分光系统,但是由于 干涉计中动镜的存在,仪器的在线可靠性受到限制,特别是对仪器的使用和 放置环境有严格要求, 比如室温、湿度、杂散光、震动等。“傅立叶变换”被 称为第三代分光技术。

  • 90 年代中期,开始有了应用二极管阵列技术的近红外光谱仪,该近红外光谱仪采用固定光栅扫描,多通道二极管阵列传感器扫描。与前几代分光技术相比,该类型光谱仪内部无任何移动部件,稳定性和抗干扰性能好,实现了近红外从实验室到现场和生产应用的转变,实时进行生产过程分析,优化企业生产工艺,提高产品质量,与自控系统相连接,可实现智能化、无人值守生产 。“二极管阵列”被称为第四代分光技术。


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